1．局部放電：局部放電是指導(dǎo)體間絕緣僅被部分橋接的電氣放電，這種放電可以在導(dǎo)體附近發(fā)生，也可以不在導(dǎo)體附件發(fā)生。
2．視在電荷量q：在試品兩端瞬時(shí)注入一定電荷量，使試品端電壓的變化和由局部放電本身引起的端電壓的變化相同，此注入量即為局部放電的視在電荷包量。
3．視在放電量校準(zhǔn)器：視在放電量校準(zhǔn)器由校準(zhǔn)脈沖發(fā)生器與校準(zhǔn)電容串聯(lián)組成，是一個(gè)校準(zhǔn)電荷產(chǎn)生裝置。
校準(zhǔn)脈沖發(fā)生器產(chǎn)生規(guī)定波形的脈沖電壓，通過(guò)校準(zhǔn)電容對(duì)被試品注入電荷，模擬被試品局部放電時(shí)的視在放電電荷。
校準(zhǔn)器的主要技術(shù)參數(shù)包括校準(zhǔn)脈沖波形上升時(shí)間、衰減時(shí)間、校準(zhǔn)脈沖峰值及校準(zhǔn)電容值。
電壓波形上升時(shí)間為從0.1Uo到0.9Uo時(shí)間，衰減時(shí)間性定義為從峰值下降到0.1Uo的時(shí)間。
技術(shù)參數(shù)
4.1．可測(cè)試品的電容范圍：6ｐF~250ｕF
4.2．檢測(cè)靈敏度及允許電流(見表1)。
4.3．橢圓掃描時(shí)基
(1) 頻率：50、100、150、200、400Ｈz
(2) 旋轉(zhuǎn)：以30度為一檔，可旋轉(zhuǎn)度。
(3) 工作方式：標(biāo)準(zhǔn)－擴(kuò)展－直線。
(4) 時(shí)基橢圓的輸入電壓范圍：13~275Ｖ。
4.4．顯示單元
采用100×80mm矩形示波管，有亮度與聚焦調(diào)節(jié)旋鈕。
4.5．放大器
(1) 3dB低頻端頻fL：20、40kHz任選。
(2) 3dB端頻率fH：80、300kHz任選。
(3) 增益調(diào)節(jié)：粗調(diào)6檔，檔間增益差±5%。
(4) 細(xì)調(diào)范圍：＞。
(5) 正、負(fù)脈沖響應(yīng)不對(duì)稱性：＜5%。
4.6．時(shí)間窗
(1) 窗寬：5度~150度(50Hz) 連續(xù)可調(diào)。
(2) 窗位置：每一窗可旋轉(zhuǎn)0度~170度。
(3) 兩個(gè)時(shí)間窗可分別或同時(shí)控制。
4.7、脈沖峰值表
(1) 線性指示：0~100誤差不大于5%。
對(duì)數(shù)指示：1~100誤差不大于5%。
pC表直接讀數(shù)：0~100誤差不大于5%。
4.8、具有識(shí)別放電脈沖相位的零標(biāo)志系統(tǒng)。
4.9、工作電源  220V±10%   工頻
4.10、體積：440×430×180mm
4.11、重量：約15Kg

通用試驗(yàn)方法
（一）試驗(yàn)?zāi)康模海?）證實(shí)試品在規(guī)定電壓下沒(méi)有高于規(guī)定值之局部放電；
（2）測(cè)定電壓上升時(shí)出現(xiàn)放電超過(guò)某一規(guī)定值時(shí)的低電壓（起始放電電壓）和電壓下降時(shí)放電低于規(guī)定值時(shí)高電壓（終止放電電壓）。
（3）測(cè)定在某一規(guī)定電壓下的放電強(qiáng)度。
（二）試驗(yàn)條件：（1）交流電源電壓應(yīng)為正弦波，不應(yīng)有過(guò)大的高次諧波。
（2）試品的電氣、機(jī)械溫度條件應(yīng)良好且穩(wěn)定。
（3）由于電壓回滯現(xiàn)象的影響，在試驗(yàn)前至少幾小時(shí)以上的時(shí)間內(nèi)，不要承受超過(guò)規(guī)定的局部放電試驗(yàn)電壓高值以上的電壓。
（4）經(jīng)過(guò)搬運(yùn)后的試品，必須靜放一段時(shí)間后再做局部放電試驗(yàn)（油浸）。
（三）試驗(yàn)程序：1．將試驗(yàn)區(qū)內(nèi)的雜物盡量移到試區(qū)以外，金屬體應(yīng)牢固接地，檢查和改善試區(qū)內(nèi)一切可能放電的部位，應(yīng)特別注意地線是否已接地。
2．根據(jù)不同的試品和試驗(yàn)條件，選擇正確的接線方式。
3．對(duì)所選擇的測(cè)試回路用視在放電量標(biāo)準(zhǔn)器對(duì)整個(gè)測(cè)試系統(tǒng)進(jìn)行刻度系數(shù)校正，校正時(shí)對(duì)所規(guī)定的刻度系數(shù)K值調(diào)節(jié)儀器的增益旋鈕，把H調(diào)到H=UoCo/K值。校正完畢后，測(cè)試儀器的細(xì)調(diào)（連續(xù)調(diào)節(jié)）增益旋鈕不得隨意變動(dòng)，同時(shí)應(yīng)將視在放電器校準(zhǔn)器從高壓線路上取下，以免在加壓試驗(yàn)時(shí)將視在放電量校準(zhǔn)品擊穿而使高壓線路短路。
（四）注意事項(xiàng)：1．在試驗(yàn)開始加壓以前，試驗(yàn)人員必須詳細(xì)而全面地檢查一遍線路，以免線路接錯(cuò)。測(cè)試儀器處的接地線是否與接地體牢固連接，若連接不牢或在準(zhǔn)備工作時(shí)接地線被腳踢斷，這將可能引起人身和設(shè)備事故。切切!
2．對(duì)于連接線應(yīng)避免將暴露在外，屏蔽罩不能與試品的瓷裙相接觸。
3．試驗(yàn)完畢后，應(yīng)對(duì)整個(gè)測(cè)試系統(tǒng)再進(jìn)行一次復(fù)查校正，驗(yàn)證是否與試驗(yàn)前所校正出的刻度系數(shù)相等，以免測(cè)試儀器或其它環(huán)節(jié)在試驗(yàn)過(guò)程中發(fā)生故障而使測(cè)試結(jié)果不對(duì)。

零標(biāo)輸入單元作為局部放電檢測(cè)系統(tǒng)的相位基準(zhǔn)，對(duì)識(shí)別局部放電和干擾有重要作用，本儀器系統(tǒng)內(nèi)置內(nèi)零標(biāo)單元和外零標(biāo)輸入單元。外零標(biāo)輸入時(shí)，系統(tǒng)的相位可以和外零標(biāo)輸入嚴(yán)格同步，且無(wú)頻率間隔要求，故可以和無(wú)局放串聯(lián)諧振電源相配合，外零標(biāo)的輸入范圍為：交流10∽380V，30Hz∽300Hz。
在實(shí)際試驗(yàn)中，可以將試驗(yàn)電源電壓經(jīng)分壓器降至10∽380V再接入零標(biāo)單元。如果在屏幕上輸入分壓器的變比，可以直接測(cè)量出試驗(yàn)電源電壓。例如，電容分壓器變比是500：1，則選擇變比為500。
如果試驗(yàn)電源和儀器電源同相或試驗(yàn)電源和工頻嚴(yán)格同步，可使用儀器內(nèi)零標(biāo)。
一般，當(dāng)沒(méi)有外零標(biāo)輸入信號(hào)時(shí)，儀器自動(dòng)選擇內(nèi)零標(biāo)作為本系統(tǒng)的相位基準(zhǔn)。如果試驗(yàn)電源和儀器電源相位不同，必須對(duì)其相位進(jìn)行校正后才可測(cè)量。

每個(gè)通道的輸入信號(hào)立的經(jīng)過(guò)前級(jí)低通濾除部分低頻信號(hào)，再經(jīng)過(guò)衰減或放大處理，然后經(jīng)過(guò)細(xì)調(diào)增益控制，經(jīng)過(guò)更精密一級(jí)的高低通濾波，進(jìn)一步篩選出放電信號(hào)，經(jīng)過(guò)高速寬頻帶12位AD轉(zhuǎn)換器進(jìn)行模數(shù)轉(zhuǎn)換，得到的數(shù)據(jù)經(jīng)過(guò)FPGA存儲(chǔ)在緩存SDRAM中，再由FPGA通過(guò)USB（或以太網(wǎng)）上傳給PC機(jī)或工控主機(jī)系統(tǒng)進(jìn)行顯示。
試驗(yàn)電壓信號(hào)經(jīng)過(guò)電壓互感器隔離變換成小信號(hào)，小信號(hào)分兩路：一路經(jīng)過(guò)調(diào)理得到試驗(yàn)電壓的外零標(biāo)信號(hào)，另一路經(jīng)過(guò)有效值轉(zhuǎn)換和A/D轉(zhuǎn)換得到試驗(yàn)電壓數(shù)據(jù)。該數(shù)據(jù)由FPGA送給PC機(jī)或工控主機(jī)系統(tǒng)進(jìn)行顯示。
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